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GB／T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法.pdf
书��...
2026-01-275256.85 MB120
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GB／T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法.pdf
书犐犆犛７７．０４０犎２１��犌犅／犜８７６０—２０２０��ＧＢ／Ｔ８７６０—２００６��...
2026-01-2716694.29 MB149
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GB／T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法.pdf
书犐犆犛７７．０４０犎２１中华人民共和国国家标准犌犅／犜５２５２—２０２０代替ＧＢ／Ｔ５２５２—２００６锗单晶位错密度的测试方法犜...
2026-01-2710384.8 MB170
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GB／T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法.pdf
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GB／T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法.pdf
书犐犆犛７７．０４０犎２１中华人民共和国国家标准犌犅／犜５２５２—２０２０代替ＧＢ／Ｔ５２５２—２００６锗单晶位错密度的测试方法犜...
2026-01-2111254.65 MB4
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GB／T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法.pdf
书犐犆犛７７．０４０犎２１中华人民共和国国家标准犌犅／犜５２５２—２０２０代替ＧＢ／Ｔ５２５２—２００６锗单晶位错密度的测试方法犜...
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GB／T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法.pdf
书��...
2025-12-2813696.85 MB153
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2025-12-218454.8 MB262
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碳化硅单晶位错密度的测试方法GBT+41765-2022.pdf
书��...
2025-11-047746.5 MB146
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低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法GBT+34481-2017.pdf
书犐犆犛７７．０４０犎２５��犌犅／犜３４４８１—２０１７��（犈犘犇）��犜犲狊...
2025-04-285711.22 MB175
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III族氮化物半导体材料中位错成像的测试透射电子显微镜法GBT+44558-2024.pdf
ICS77.040CCSH21中华人民共和国国家标准GB/T44558—2024Ⅲ族氮化物半导体材料中位错成像的测试透射电子显微镜法Testmethodfordislocationim...
2025-04-2814835.71 MB280
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蓝宝石单晶位错密度测量方法GBT+33763-2017.pdf
书犐犆犛７７．０４０犎２５��犌犅／犜３３７６３—２０１７��犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱犳狅狉犱...
2025-03-261701.12 MB165
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氮化镓单晶位错密度的测量阴极荧光显微镜法32282-2015-gbt-cd-300.pdf
ICS77.040H21中华人民共和国国家标准GB/T32282—2015氮化镓单晶位错密度的测量阴极荧光显微镜法TestmethodfordislocationdensityofGaNsingl...
2025-03-266621.03 MB198
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