ICS77.040CCSH21中华人民共和国国家标准GB/T46227—2025半导体单晶材料透过率测试方法Testmethodfortransmittanceofsemiconductorsinglecry...
ICS77.140.99CCSH57中华人民共和国国家标准GB/T43897—2024铸造高温合金母合金单晶Castsuperalloy—Masteralloy—Singlecrystal2024-04-25...
书����������������������������������������������������������������...
书犐犆犛77.040犎21中华人民共和国国家标准犌犅/犜5252—2020代替GB/T5252—2006锗单晶位错密度的测试方法犜...
书犐犆犛29.045犎82�����������犌犅/犜5238—2019��GB/T5238—2009��������犕狅狀狅犮...
!!"#!!!"#"!"$$$!!"#$%&’’()*%&!’#%&’"&""’"#"#!$%&’(")*+%!"#$%&’()*+,-.)*/01234()*+,-.,/.01,/2-34/*2+.,-560/+7.*86.108.4+010-...
书犐犆犛77.040犆犆犛犎21�����������犌犅/犜41751—2022������������������犜犲狊狋犿犲...
书犐犆犛29.045犆犆犛犎83中华人民共和国国家标准犌犅/犜20230—2022代替犌犅/犜20230—2006磷化铟单晶犐狀犱...
书犐犆犛29.045犆犆犛犎83�����������犌犅/犜20229—2022��犌犅/犜20229—2006�����犌犪犾...
书犐犆犛29.045犆犆犛犎83中华人民共和国国家标准犌犅/犜20228—2021代替犌犅/犜20228—2006砷化镓单晶犌犪犾...
IC�77.040CCSII21中华人民共和国国家标准GB/T42676—2023半导体单晶晶体质量的测试X射线衍射法Testmethodforcrystallinequalityofsemicond...
ICS77.120.10CCSH61GB中华人民共和国国家标准CB/T34213—2023代替GB/T34213一2017蓝宝石单晶用高纯氧化铝2023-08-06发布Highpurityaluminaf...
书犐犆犛77.040犎21中华人民共和国国家标准犌犅/犜5252—2020代替GB/T5252—2006锗单晶位错密度的测试方法犜...
书犐犆犛29.045犎82�����������犌犅/犜5238—2019��GB/T5238—2009��������犕狅狀狅犮...
ICS31.260CCSL51中华人民共和国国家标准GB/T22452—2025代替GB/T22452—2008硼酸盐非线性光学单晶元件通用规范Generalspecificationofnon-l...
!!"#!!!"#"!"$$$!!"#$%&’’()*%&!’#%&’"&""’"#"#!$%&’(")*+%!"#$%&’()*+,-.)*/01234()*+,-.,/.01,/2-34/*2+.,-560/+7.*86.108.4+010-...
书犐犆犛29.045犆犆犛犎83中华人民共和国国家标准犌犅/犜20230—2022代替犌犅/犜20230—2006磷化铟单晶犐狀犱...
书犐犆犛29.045犆犆犛犎83�����������犌犅/犜20229—2022��犌犅/犜20229—2006�����犌犪犾...
ICS77.140.99CCSH57中华人民共和国国家标准GB/T43897—2024铸造高温合金母合金单晶Castsuperalloy—Masteralloy—Singlecrystal2024-04-25...

