ICS77.040CCSH21中华人民共和国国家标准GB/T46227—2025半导体单晶材料透过率测试方法Testmethodfortransmittanceofsemiconductorsinglecry...
ICS25.100.70CCSJ43中华人民共和国国家标准GB/T44687—2024超硬磨料制品半导体晶圆精密磨削用砂轮Superabrasiveproducts—Precisiongrindin...
ICS77.040CCSH21中华人民共和国国家标准GB/T44558—2024Ⅲ族氮化物半导体材料中位错成像的测试透射电子显微镜法Testmethodfordislocationim...
300mm半导体设备装载端口要求Requirementsforloadportsof300mmsemiconductorequipmentICS31.260CCSL97中华人民共和国国家标准GB/T44375—20...
空间环境宇航用半导体器件在轨单粒子翻转率预计方法Spaceenvironment—Methodofsingleeventupsetratespredictionofsemiconduct﹘ordevicesf...
ICS49.020CCSV06中华人民共和国国家标准GB/T43967—2024空间环境宇航用半导体器件单粒子效应脉冲激光试验方法Spaceenvironment—Testmethod...
ICS77.040CCSH21中华人民共和国国家标准GB/T43894.1—2024半导体晶片近边缘几何形态评价第1部分:高度径向二阶导数法(ZDD)Practicefordeterm...
ICS49.035CCSV25中华人民共和国国家标准GB/T43366—2023宇航用半导体分立器件通用规范Generalspecificationfordiscretesemiconductordevice...
书����������������������������������������������������������������...
书����������������������������������������������������������������...
书����������������������������������������������������������������...
书����������������������������������������������������������������...
书����������������������������������������������������������������...
书����������������������������������������������������������������...
书����������������������������������������������������������������...
书����������������������������������������������������������������...
书����������������������������������������������������������������...
书����������������������������������������������������������������...
书����������������������������������������������������������������...
书����������������������������������������������������������������...
